鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實時定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導電樣品進行更真實的能譜元素分析。專為快速分析而設(shè)計，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。
 

　　鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術(shù)和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準確執(zhí)行故障分析和缺陷檢測。通用型SEM系統(tǒng)，可涵蓋多種類型樣品。可分析絕緣材料、處理大而重的樣品，同時能夠分析常規(guī)的小尺寸樣品。靈活性SEM系統(tǒng)，支持各類功能附件。使用便捷，不依賴于用戶操作水平、能夠便捷提供元素或化學信息。高度自動化，自動對中技術(shù)確保系統(tǒng)始終處于最佳工作狀態(tài)，用戶指南及撤銷功能幫助用戶更輕松操作系統(tǒng)。處理效率高，實時定量成分分析成像，更快獲得定量分析數(shù)據(jù)。
 

　　鎢燈絲掃描電鏡可以完成實時成分信息，同步掃描獲取多種信號時執(zhí)行能譜分析，實時檢測形貌與元素信息；成像平臺即時可用，只需關(guān)注數(shù)據(jù)采集，不必憂慮電鏡條件設(shè)置；更快獲得數(shù)據(jù)，多種成像和掃描策略，優(yōu)化圖像采集效果并提升系統(tǒng)處理能力；靈活的樣品臺設(shè)計，全開門式設(shè)計，大樣品可輕松加載到樣品倉內(nèi)，*的成像性能，提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應(yīng)。